冷凍機(jī)-工業(yè)冷凍機(jī)-高低溫一體機(jī)
恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱
箱.jpg)
本試驗(yàn)設(shè)備適用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)，通過產(chǎn)品進(jìn)行應(yīng)力篩選，加速檢驗(yàn)產(chǎn)品在設(shè)計(jì)中和缺陷，提高產(chǎn)品的可靠性； 在快速溫度循環(huán)試驗(yàn)可以找出產(chǎn)品出廠質(zhì)量問題，是目前最有效最可靠的產(chǎn)品驗(yàn)證途徑；變頻自定算法控制，機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上。
境試驗(yàn)箱.jpg)
相關(guān)推薦
-
兩箱式冷熱沖擊環(huán)境試驗(yàn)箱
584本系列沖擊試驗(yàn)箱采用冷熱兩箱結(jié)構(gòu)，利用提籃快速轉(zhuǎn)換試驗(yàn)樣品到試驗(yàn)區(qū)域，達(dá)到冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)康模?該沖擊方式最大限度的減少了冷熱沖擊時(shí)的熱負(fù)載，縮短了溫度恢復(fù)時(shí)間；變頻自定算法控制，機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上。 ,
查看全文 -
-
多層半導(dǎo)體封裝測(cè)試箱
506本系列產(chǎn)品主要應(yīng)用半導(dǎo)體封裝測(cè)試，設(shè)備分左右兩個(gè)測(cè)試箱，可同時(shí)為多層芯片帶載測(cè)試，為芯片可靠性測(cè)試驗(yàn)證提供可靠環(huán)境。 ,
查看全文 -
步入式環(huán)境試驗(yàn)箱
530本試驗(yàn)箱適用于整機(jī)或大型零部件的低溫、高溫、高低溫變化、恒定濕熱、高低溫交變濕熱等試驗(yàn)?？筛鶕?jù)用戶要求改變工作室尺寸與功能，采用拼塊式箱體，造型美觀大方，科學(xué)的風(fēng)道設(shè)計(jì)，能滿足不同客戶的需求。；變頻自定算法控制，機(jī)組運(yùn)行綜合節(jié)能35%以上...
查看全文
體試驗(yàn)箱-300x300.jpg "多層半導(dǎo)體封裝測(cè)試箱")
境試驗(yàn)箱-1-300x300.jpg "步入式環(huán)境試驗(yàn)箱")