在晶圓制造過程中，半導(dǎo)體Chiller設(shè)通過制冷與加熱的動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)，為晶圓制造各環(huán)節(jié)提供穩(wěn)定的溫度環(huán)境，其核心作用是維持工藝過程中溫度的準(zhǔn)確控制，避免因溫度波動(dòng)導(dǎo)致的圖形轉(zhuǎn)移偏差、薄膜均勻性下降等問題。

　　一、半導(dǎo)體Chiller設(shè)備的溫度控制原理

　　半導(dǎo)體Chiller設(shè)備的溫度控制基于閉環(huán)反饋調(diào)節(jié)機(jī)制，通過檢測 – 計(jì)算 – 執(zhí)行的循環(huán)實(shí)現(xiàn)目標(biāo)溫度的穩(wěn)定。其核心構(gòu)成包括溫度傳感器、控制器、制冷系統(tǒng)與加熱系統(tǒng)：溫度傳感器實(shí)時(shí)采集工藝環(huán)境的溫度信號，傳輸至控制器后與設(shè)定值對比，控制器根據(jù)偏差值調(diào)節(jié)制冷或加熱輸出，當(dāng)實(shí)際溫度高于設(shè)定值時(shí)，制冷系統(tǒng)啟動(dòng)，通過制冷劑的相變吸熱降低溫度；當(dāng)實(shí)際溫度低于設(shè)定值時(shí)，加熱系統(tǒng)通過壓縮機(jī)制熱或電加熱補(bǔ)充熱量。

　　二、半導(dǎo)體Chiller設(shè)備在晶圓制造關(guān)鍵工藝中的應(yīng)用

　　1、光刻工藝中的溫度控制

　　光刻工藝對溫度變化要求較高，光刻膠的涂布、曝光與顯影均需在穩(wěn)定溫度下進(jìn)行。Chiller設(shè)備通過控制光刻膠涂布臺(tái)的溫度，確保膠層厚度均勻，若溫度波動(dòng)過大，可能導(dǎo)致光刻膠黏度變化，引發(fā)涂層厚薄不均。在曝光環(huán)節(jié)，Chiller設(shè)備為掩模版與晶圓載臺(tái)提供恒溫環(huán)境，避免因熱脹冷縮導(dǎo)致的套刻精度偏差。其控溫精度可滿足光刻工藝對溫度穩(wěn)定性的要求，確保曝光圖形的尺寸一致性。

　　2、刻蝕工藝中的溫度控制

　　刻蝕過程中，反應(yīng)腔的溫度直接影響刻蝕速率與剖面形態(tài)。Chiller設(shè)備通過控制反應(yīng)腔壁與晶圓載臺(tái)的溫度，維持等離子體反應(yīng)的穩(wěn)定性：溫度過高可能導(dǎo)致刻蝕劑過度反應(yīng)，造成圖形過刻；溫度過低則會(huì)降低反應(yīng)效果，影響刻蝕效率。此外，Chiller設(shè)備的動(dòng)態(tài)控溫能力可應(yīng)對刻蝕過程中的熱負(fù)載變化，當(dāng)晶圓表面因等離子體轟擊產(chǎn)生熱量時(shí)，設(shè)備能快速調(diào)節(jié)制冷量，避免局部溫度升高導(dǎo)致的刻蝕均勻性下降。

　　三、半導(dǎo)體Chiller設(shè)備溫度控制的核心技術(shù)要求

　　1、控溫精度與穩(wěn)定性

　　晶圓制造工藝通常要求溫度控制精度在合理范圍以內(nèi)。Chiller設(shè)備通過成熟的控制算法實(shí)現(xiàn)這一要求：算法根據(jù)溫度變化趨勢提前調(diào)節(jié)輸出，減少滯后帶來的波動(dòng)。同時(shí)，設(shè)備配備高精度溫度傳感器，結(jié)合實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集與快速響應(yīng)的執(zhí)行機(jī)構(gòu)，確保在負(fù)載變化時(shí)仍能維持溫度穩(wěn)定。

　　2、溫度范圍與調(diào)節(jié)速率

　　不同工藝對溫度的需求差異較大，Chiller設(shè)備需覆蓋從低溫到高溫的寬區(qū)間?？涛g工藝需在低溫環(huán)境下進(jìn)行，而薄膜退火則可能需要苛刻的高溫。此外，工藝切換時(shí)的溫度調(diào)節(jié)速率需匹配生產(chǎn)節(jié)拍，快速升降溫能力可縮短工藝準(zhǔn)備時(shí)間，提高設(shè)備利用率。Chiller設(shè)備通過優(yōu)化制冷與加熱系統(tǒng)的功率配置，在保證控溫精度的前提下，實(shí)現(xiàn)溫度的快速切換。

　　3、介質(zhì)適應(yīng)性與系統(tǒng)安全性

　　晶圓制造中常用的導(dǎo)熱介質(zhì)包括硅油、乙二醇水溶液等，Chiller設(shè)備需根據(jù)溫度范圍選擇適配介質(zhì)：高溫場景則使用穩(wěn)定性更好的硅油，設(shè)備的循環(huán)系統(tǒng)采用耐腐蝕材料，避免介質(zhì)與管路反應(yīng)產(chǎn)生雜質(zhì)污染晶圓。同時(shí)，系統(tǒng)具備多重安全保護(hù)功能，防止因介質(zhì)泄漏或設(shè)備故障影響生產(chǎn)安全。

　　半導(dǎo)體Chiller設(shè)備通過準(zhǔn)確、穩(wěn)定的溫度控制，為晶圓制造的各環(huán)節(jié)提供了基礎(chǔ)保障。其在控溫精度、溫度范圍與系統(tǒng)安全性上的設(shè)計(jì)，契合了晶圓制造對工藝環(huán)境的嚴(yán)苛要求。

接觸式高低溫測試機(jī)

接觸式?低溫測試機(jī)應(yīng)?溫度范圍-75~+200℃，?持從極低溫到?溫的快速升溫和降溫，最快速率可達(dá)到75℃/min，能夠精確的控制溫度，誤差通常在±0.2℃以內(nèi)。

詳細(xì)信息

精密恒溫恒濕機(jī)組

冠亞恒溫LNEYA精密恒溫恒濕機(jī)組，超精密空調(diào)是?種能精準(zhǔn)控制環(huán)境溫、濕度的空?調(diào)節(jié)設(shè)備，提供兩款設(shè)備型號，常規(guī)水冷款和迷你型風(fēng)冷款。機(jī)組采??品質(zhì)潔凈型?機(jī)、潔凈型箱體、?藝，避免?次環(huán)境污染

詳細(xì)信息

雙通道系列 Dual Channel Chiller

FLTZ系列雙通道Chillers主要用于半導(dǎo)體制程中對反應(yīng)腔室溫度的精準(zhǔn)控制，公司在系統(tǒng)中應(yīng)用多種算法（PID、前饋PID、無模型自建樹算法），顯著提升系統(tǒng)的響應(yīng)速度、控制精度和穩(wěn)定性。

詳細(xì)信息

ZLTZ直冷控溫機(jī)組Chiller

ZLTZ直冷控溫機(jī)組Chiller適合應(yīng)?于微通道反應(yīng)器、板式換熱器、冷板、熱沉板、管式反應(yīng)器等換熱?積?、制冷量?、溫差?的控溫需求場所；設(shè)備可?動(dòng)回收導(dǎo)熱介質(zhì)；

詳細(xì)信息

單通道系列 Single Channel Chiller

FLTZ系列單通道Chillers主要應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度精準(zhǔn)控制，公司在系統(tǒng)中應(yīng)用多種算法（PID、前饋PID、無模型自建樹算法），實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)快速響應(yīng)、較高的控制精度。

詳細(xì)信息

三通道系列 Triple Channel Chiller

FLTZ系列三通道Chillers主要應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度精準(zhǔn)控制，系統(tǒng)支持三個(gè)通道獨(dú)立控溫，每個(gè)通道有獨(dú)立的溫度范圍、冷卻加熱能力、導(dǎo)熱介質(zhì)流量等。

詳細(xì)信息

ZLJ/SLJ系列超低溫直冷機(jī)

適用范圍 將制冷系統(tǒng)中的制冷劑直接輸出蒸發(fā)進(jìn)??標(biāo)控制元件（換熱器）換熱，從?使?標(biāo)控制對象降溫。具備換熱能力相對于流體（?體）輸送?換熱器換熱能?更??般在5倍以上，這樣特別適?于換熱器換熱?積?，但是換熱量?的運(yùn)?場所。 也可以如?體捕集運(yùn)?，將制冷劑直接通?捕集器蒸發(fā)，通過捕集器表?冷凝效應(yīng)，迅速捕集空間中的?體。 …

詳細(xì)信息

真空控溫卡盤Chuck

冠亞恒溫LNEYA真空控溫卡盤Chuck提供8寸卡盤、12寸卡盤以及非標(biāo)定制方形冷板，支持-70~+200℃寬溫度范圍，也可以定制各種其他溫度范圍，內(nèi)置多個(gè)溫度傳感器，多區(qū)控溫，精確FID調(diào)節(jié)控溫；支持直冷、液冷、?冷；

詳細(xì)信息

LQ系列氣體冷卻裝置

適用范圍 應(yīng)?于將?體（?腐蝕）降溫使?：如?燥壓縮空?、氮?、氬?等常溫?體通?到LQ系列設(shè)備內(nèi)部，出來的?體即可達(dá)到?標(biāo)低溫溫度，供給需求測試的元件或換熱器中。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter 所有設(shè)備額定測試條件：?球溫度：20℃；濕球溫度：16℃。進(jìn)?溫度：20℃；出…

詳細(xì)信息

AI系列循環(huán)風(fēng)系統(tǒng)

適用范圍 運(yùn)?于半導(dǎo)體設(shè)備?低溫測試。電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試?yán)錈嵩?；?dú)?的制冷循環(huán)?機(jī)組；可連續(xù)?時(shí)間?作，?動(dòng)除霜，除霜過程不影響庫溫； 模塊化設(shè)計(jì)，備?機(jī)替換容易（只要?臺(tái)備?機(jī)組即可）；解決頻繁開關(guān)?，蒸發(fā)系統(tǒng)結(jié)霜問題；蒸發(fā)系統(tǒng)除霜過程不影響。構(gòu)筑?套?低溫恒溫室變的簡單（根據(jù)提供的圖紙，像搭積??般拼接好箱體，連接好電和?，設(shè)…

詳細(xì)信息

AES系列熱流儀

適用范圍 射流式?低溫沖擊測試機(jī)給芯?、模塊、集成電路板、電?元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features ? 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter 行業(yè)應(yīng)用 APPLICATION 半導(dǎo)體封測工藝過程控溫解決方案 半導(dǎo)體封測…

詳細(xì)信息

AET系列氣體快速溫變測試機(jī)

適用范圍 壓縮空?進(jìn)??體快速溫變測試機(jī)，內(nèi)置有?燥器，預(yù)先把?體?燥到露點(diǎn)溫度-70度以下，進(jìn)?制冷加熱控溫輸出穩(wěn)定流量壓?恒溫的?體，對?標(biāo)對象進(jìn)?控溫（如各類控溫卡盤、腔體環(huán)境、熱承板、料梭、腔體、電?元件等），可根據(jù)遠(yuǎn)程卡盤上的溫度傳感器進(jìn)??藝過程控溫，?動(dòng)調(diào)節(jié)輸出?體的溫度。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features …

詳細(xì)信息

Dryer氣體干燥器

適用范圍 應(yīng)?于傳感器、半導(dǎo)體制造、薄膜和包裝材料執(zhí)照、粉狀物料運(yùn)輸、噴涂系統(tǒng)、?品?業(yè)、制藥?業(yè)等需要實(shí)現(xiàn)-80℃低露點(diǎn)?燥和清潔的分布式?源。 產(chǎn)品特點(diǎn) Product Features 產(chǎn)品參數(shù) Product Parameter 行業(yè)應(yīng)用 APPLICATION 半導(dǎo)體封測工藝過程控溫解決方案 半導(dǎo)體封測工藝是…

詳細(xì)信息

面板系列Panel Chiller

面板系列Chiller應(yīng)?于刻蝕、蒸鍍、鍍膜?藝等，支持?流量?負(fù)載，確保極端?況下持續(xù)穩(wěn)定運(yùn)?；支持冷卻?動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)系統(tǒng)，可根據(jù)環(huán)境溫度與設(shè)備熱負(fù)荷，實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)?溫。

詳細(xì)信息

帕爾貼Chiller

冠亞恒溫LNEYA 帕爾貼熱電制冷器CHILLER溫度范圍從-20到90℃，專為半導(dǎo)體行業(yè)度身定制； 基于經(jīng)過實(shí)踐驗(yàn)證的帕爾貼熱傳導(dǎo)原理，帕爾貼溫度控制系統(tǒng)能夠?yàn)榈入x子刻蝕應(yīng)用提供可重復(fù)性的溫度控制；

詳細(xì)信息