臺(tái)式接觸式熱流儀

臺(tái)式直接接觸式熱循環(huán)系統(tǒng)

直接接觸系統(tǒng)的家庭提供IC溫度特性,包括高瓦特發(fā)射器件的有效源。該單元具有高響應(yīng)性和可靠性,可通過(guò)柔性臍帶給熱探頭提供動(dòng)力無(wú)需使用熱電模塊

與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱對(duì)比，高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì)

在芯片可靠性測(cè)試方面,?高低溫測(cè)試機(jī)有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨(dú)特優(yōu)勢(shì): 變溫速率快，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 亦可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度, 可針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC, 單獨(dú)進(jìn)行測(cè)試, 而不影響周邊其它器件.
測(cè)試方法

1. 將被測(cè)芯片或模塊放置在測(cè)試腔中, 將熱流罩壓在測(cè)試腔位置.
2. 設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍.
3. 啟動(dòng)設(shè)備, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入高低溫測(cè)試機(jī)內(nèi)部制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫, 氣流通過(guò)熱流罩進(jìn)入測(cè)試腔. 熱流罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前腔體內(nèi)溫度.
4. 在芯片測(cè)試平臺(tái)下, 設(shè)備快速升降溫至要求的設(shè)定溫度, 實(shí)時(shí)檢測(cè)芯片在設(shè)定溫度下的工作狀態(tài), 對(duì)于產(chǎn)品分析, 工藝改進(jìn)以及定向品質(zhì)追溯提供確實(shí)的數(shù)據(jù)依據(jù).
沖擊測(cè)試機(jī)特性：
溫度范圍：-65 to 175°C
冷卻功率: 55W at -55°C; 125W at -40°C
變溫速率：25 to -40°C <35 S
通訊接口：以太網(wǎng)、USB、RS485，支持選配